微區(qū)反射光譜測(cè)量系統(tǒng)

產(chǎn)品介紹

微區(qū)反射光譜測(cè)量系統(tǒng)即是將光譜分析技術(shù)與顯微光路結(jié)合，可在微米級(jí)尺度上采集樣品的反射光譜信息，廣泛應(yīng)用于物理、化學(xué)、生物等行業(yè)材料光譜性能研究。

產(chǎn)品特點(diǎn)

◆ 模塊設(shè)計(jì)：通過(guò)在顯微鏡中加裝拓展模塊實(shí)現(xiàn)光譜測(cè)量，同時(shí)可在客戶現(xiàn)有顯微鏡基礎(chǔ)上定制相應(yīng)檢測(cè)模塊。

◆ 共焦設(shè)計(jì)：光源光路與光譜儀接收光路共軸，較好的共焦設(shè)計(jì)使得測(cè)量“所見(jiàn)即所得"，并且系統(tǒng)的雜散光可以得到有效抑制。

◆ 寬光譜檢測(cè)范圍：搭配如海光電的光纖光譜儀，可實(shí)現(xiàn)200~2500nm寬光譜測(cè)量。

◆ 靈活選配與升級(jí)：該系統(tǒng)除可實(shí)現(xiàn)反射測(cè)量外，同時(shí)可根據(jù)客戶需求在此基礎(chǔ)上添加特定測(cè)量模塊從而實(shí)現(xiàn)反射+透射+拉曼+熒光多光譜測(cè)量。

◆ 高精度測(cè)量：自動(dòng)移動(dòng)平臺(tái)最小步進(jìn)1μm，可實(shí)現(xiàn)微小區(qū)域光譜掃描測(cè)量。

規(guī)格